在分析QCM-D和椭圆偏振数据时应该考虑什么

QCM-D和椭圆偏振法是两种表面敏感实时技术用于组合产生协同效应然而，对于大多数组合输出数据，有一些方面需要考虑两种技术的差异和相似之处。那么，在设置联合实验并随后分析捕获的数据时，应该注意哪些方面呢?

优化QCM-D与椭圆偏振数据联合分析的输出

总体目标是提取关于所研究的系统的信息，仅使用这两种技术中的任何一种都无法实现。因此，为了最大限度地利用组合输出数据，必须认识到各自的方法生成了哪些信息，以及如何最大限度地利用这些信息。

了解QCM-D和光谱椭偏仪(SE)信息输出

要认识到组合可以产生什么样的协同效应，一个良好的开始是了解各自技术的输出，以及如何将它们组合起来以产生单独各自技术无法实现的新输出。

QCM-D和SE都是表面敏感的实时技术，可以监测表面质量变化。QCM-D提取湿块信息，椭偏仪提取干块信息．因此，结合起来，不仅可以获得固液界面薄层形成和修饰过程中的质量、厚度、力学和光学性质等信息，而且还可以实时监测层的组织和结构。结合干、湿质量，可推导出膜的孔隙率、构象和溶胀状态等信息。

首先提取独立测量的SE和QCM-D厚度和质量;d^SEd^QCM-D,米^SE和m^QCM-D,分别。这样就可以估计薄膜的溶剂化程度。得到体积分数为:

年代⁰_v= d^SE/ d^QCM-D(1）

质量分数参数为:

年代⁰_米= m^SE/ m^QCM-D（2）

优化QCM-D和椭圆偏振数据的质量

一旦了解了各自的优化数据输出的方法和要求，就应该从组合数据分析的角度出发，规划并执行实验，优化数据的质量。

• 这两种技术对污染都很敏感。因此，仪器和传感器表面的清洁度至关重要。
• 对于这两种方法，特别是QCM-D测量，温度稳定性非常重要。应注意启动仪器温度控制，并避免环境温度的大幅度波动。
• 从SE的角度来看，SE数据的建模需要SE参考测量，提供关于基材的光学性质，环境介质，吸附质，以及在测量的所有阶段由实验设置引起的其他影响的信息，图1。因此必须捕获以下光谱:

• 要记住的另一个方面是度量与时间的一致性。吸附质分数参数的计算是时间的函数，因此椭偏仪和qcm - d得到的厚度或质量参数需要与时间紧密对齐。
• 为了便于各自数据集的分析以及数据的对齐，最好捕获至少5 - 10分钟的基线。

图1。带有安装传感器的椭圆偏振模块的简图横截面和SE测量的捕获。

结束语

QCM-D和椭圆偏振仪是两种互补的技术，当它们结合使用时，可以产生协同效应，并且比单独使用这两种技术中的任何一种都能更深入地了解所研究的系统。了解各自技术提供的信息输出，可以获得诸如吸附质分数参数等其他信息。为了优化数据分析，在准备联合实验时考虑到各自的技术需求是很重要的。

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